*   详细参数：

    ST－20掌上型方块电阻测试仪,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
*  特点:
   1.采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定。
   2.低功耗。
   3.采用单个电池供电，带电池欠压指示。
   4.仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm。
   5.采用弹簧电缆连接，有效抗拉。
   6.特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜。
   7.探头带抗静电模块。

*  技术指标:
1.测量范围：
基本量程：方块电阻 10.0-199.9(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 100-1999(Ω/口)
2.测量不确定度≤5%
3.探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500 MΩ