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行业资讯

商品参数：

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型号	LE-200J	LH-200J	LZ-200J
测定对象	磁性金属上非磁性薄膜	非磁性金属上绝缘薄膜	磁性金属上非磁性薄膜/ 非磁性金属上绝缘薄膜
测定范围	0～1500µm	0～800µm	磁0～1500µm;涡0～800µm
测定精度	未满15µm：±0.3µm； 15µm以上±2%	未满50µm：±1µm；50µm以上±2%	磁:未满15µm：±0.3µm；15µm以上±2% 涡:未满50µm：±1µm；50µm以上±2%
解析度	未满100µm：0.1µm；100µm以上1µm
最小测定面积	3×3mm		5×5mm
测定功能	1.单点测试 2.连续扫描测试，可测试膜厚分布变化
显示方式	LCD数字大型屏幕显示，16键密封按键，公、英制可切换µm/mils
校正记忆容量	4组，任何时间开机后不需再重新校正/1500点  共8组/共3000点
资料记忆/统计功能	测定次数、平均值、最大值、最小值、标准偏差/内建式打印机，可自动统计记录
界限值功能	可任意设定上、下限判定功能，如测值超出范围则电子报警
尺寸W×D×H/重量	120×250×55mm/1.1kg

商品描述：

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  采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能，可外接电脑。 LE-200J为电磁型/LH-200J为涡流型/LZ-200J为两用型。
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