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商品参数：
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型号 |
LE-300J |
LH-300J |
LZ-300J |
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测定对象 |
磁性金属上非磁性薄膜 |
非磁性金属上绝缘薄膜 |
磁性金属上非磁性薄膜/
非磁性金属上绝缘薄膜 |
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测定范围 |
0～1500µm |
0～800µm |
磁0～1500µm;
涡0～800µm |
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测定精度/解析度 |
未满50µm：±1µm；50µm以上2%/未满100µm：±0.1µm；100µm以上1µm |
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最小测定面积 |
5×5mm |
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测定功能 |
1.单点测试 2.连续扫描测试，可测试膜厚分布变化 |
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显示方式 |
LCD数字大型屏幕显示，16键密封按键，公、英制可切换µm/mils |
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电源/电池寿命 |
单3号电池*4/连续使用60小时，并具节电功能，15分钟未使用自动关机 |
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校正记忆功能 |
非挥发性记忆体可记忆归零正值，任何时间开机不需再重新校正 |
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界限值功能 |
可任意设定上、下限判定功能，如测值超出范围则电子报警 |
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尺寸W×D×H/重量 |
75×140×31mm/500g |
商品描述：采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。 LE-300J为电磁型/LH-300J为涡流型/LZ-300J为两用型。
产品通过ISO90001：2000国际质量体系认证。
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